模板:光學顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書

閱論編光學顯微鏡
顯微鏡光學顯微鏡
照明和對比方法	明場顯微鏡（英語：Bright field microscopy）科勒照明暗場顯微鏡相襯顯微技術微分干涉相差顯微鏡（DIC） Dispersion staining（英語：Dispersion staining） Second-harmonic imaging microscopy（英語：Second-harmonic imaging microscopy） 4Pi顯微鏡顯微鏡學 Sarfus（英語：Sarfus）
熒光方法	熒光顯微鏡共聚焦顯微鏡雙光子激發顯微鏡多光子顯微鏡（英語：TMultiphoton microscopy） Image deconvolution（英語：Deconvolution#Optics and other imaging）全內反射熒光顯微鏡(TIRF) Light sheet fluorescence microscopy（英語：Light sheet fluorescence microscopy）
亞繞射極限顯微技術	Diffraction-limited system（英語：Diffraction-limited system） STED microscopy（英語：STED microscopy） Photoactivated localization microscopy（英語：Photoactivated localization microscopy）近場 (NSOM/SNOM)

閱論編光學顯微鏡
顯微鏡光學顯微鏡
照明和對比方法	明場顯微鏡（英語：Bright field microscopy）科勒照明暗場顯微鏡相襯顯微技術微分干涉相差顯微鏡（DIC） Dispersion staining（英語：Dispersion staining） Second-harmonic imaging microscopy（英語：Second-harmonic imaging microscopy） 4Pi顯微鏡顯微鏡學 Sarfus（英語：Sarfus）
熒光方法	熒光顯微鏡共聚焦顯微鏡雙光子激發顯微鏡多光子顯微鏡（英語：TMultiphoton microscopy） Image deconvolution（英語：Deconvolution#Optics and other imaging）全內反射熒光顯微鏡(TIRF) Light sheet fluorescence microscopy（英語：Light sheet fluorescence microscopy）
亞繞射極限顯微技術	Diffraction-limited system（英語：Diffraction-limited system） STED microscopy（英語：STED microscopy） Photoactivated localization microscopy（英語：Photoactivated localization microscopy）近場 (NSOM/SNOM)