Template:扫描探针显微镜 - 维基百科，自由的百科全书

查论编扫描探针显微镜
常见	原子力 (非接触模式（英语：Non-contact atomic force microscopy）) 扫描隧道	Typical atomic force microscopy set-up
其他	弹道电子发射（英语：Ballistic electron emission microscopy）化学力（英语：Chemical force microscopy）电导原子力（英语：Conductive atomic force microscopy）电化学扫描隧道（英语：Electrochemical scanning tunneling microscope）静电力开尔文探针力磁力磁共振力（英语：Magnetic resonance force microscopy）近场扫描光学 Photothermal microspectroscopy 压电力（英语：Piezoresponse force microscopy）扫描电容（英语：Scanning capacitance microscopy）扫描电化学扫描门（英语：Scanning gate microscopy）扫描霍尔探针（英语：Scanning Hall probe microscope）扫描离子电导（英语：Scanning ion-conductance microscopy）扫描热（英语：Scanning thermal microscopy）自旋极化扫描隧道（英语：Spin polarized scanning tunneling microscopy）扫描电压（英语：Scanning voltage microscopy）
应用	扫描探针光刻（英语：Scanning probe lithography） Dip-pen nanolithography Feature-oriented scanning Millipede内存
参阅	纳米技术顯微鏡顯微鏡學